布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡

臺式表面的的成像和計量功能

布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計量性能的設(shè)計和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測量功能，高保真成像，以及業(yè)界進的用戶友好界面，可在緊湊的系統(tǒng)中提供毫不妥協(xié)的計量和高保真成像。

Contour Elite K提供了白光干涉測量法的所有優(yōu)點，而沒有傳統(tǒng)的共聚焦和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字顯微鏡的不足。

布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡

的價值和可擴展的選擇

Contour Elite K針對實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率進行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合，可以以比同類計量能力低數(shù)千美元的價格，簡化對光學(xué)性能的訪問。Contour Elite K可以通過現(xiàn)場升級的附件輕松擴展到標(biāo)準(zhǔn)平臺之外，包括：

• 全自動刀塔和可編程的X，Y，Z機芯
• 生產(chǎn)力軟件

毫不妥協(xié)的計量設(shè)計

簡化的系統(tǒng)可提供定量計量所需的低噪聲，高速，準(zhǔn)確和精密的結(jié)果。通過使用多個目標(biāo)和集成的特征識別功能，可以在各種視角下以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用程序提供與比例無關(guān)的結(jié)果。

精確的測量和高保真成像

Contour Elite K在工業(yè)3D光學(xué)顯微鏡中可提供的橫向分辨率，即使在小的結(jié)構(gòu)上也能增強量化邊緣變化的能力。Contour Elite的高保真成像可顯示特定表面細節(jié)，否則將很難看到或無法看到這些細節(jié)，并使用戶能夠根據(jù)顏色或灰度信息對數(shù)據(jù)進行細分，以快速選擇感興趣的區(qū)域并從這些特定區(qū)域收集關(guān)鍵的計量數(shù)據(jù)。

強大的分析功能，易于使用

Contour Elite K具有簡化的用戶界面，可大化用戶效率并簡化測量和分析。Vision 64將智能架構(gòu)與直觀的可視化工作流程以及廣泛的用戶定義的自動化功能相結(jié)合，可實現(xiàn)快速，全面的數(shù)據(jù)收集和分析。新的Vision64 Map通過開放簡化的對11種語言的自動報告的訪問權(quán)限，進一步擴展了這些功能。